產品特點

線圈類產品（如變壓器、電機等）由于繞線材料、磁性材料、骨架、加工工藝等因素的影響會導致線圈層間、匝間及引腳間等絕緣性能的降低。TH2886S系列脈沖式線圈測試儀是采用高速采樣技術研制的新一代線圈類產品絕緣性能分析測試儀。

TH2886S將標準線圈的采樣波形存儲于儀器中，測試時將被測線圈的測試波形與標準波形比較，根據設定的判據（面積、面積差等）來判定被測線圈的優劣。本儀器集成了強大的功能、精密的測試手段、靈活的操作方法及多種接口方式，可為大多數線圈類產品提供測試解決方案。

本脈沖式線圈測試儀可有效地、非損壞性地對線圈繞組進行高壓脈沖測試來測試其電氣性能。

其原理是對被測線圈繞組和標準線圈繞組施加相同的脈沖電壓，比較兩者的瞬態波形，以判斷被測繞組件的優劣。瞬態波形也就是線圈內發生的衰減振蕩波形，它可同時判斷該繞組的電感、品質因素Q值、繞組的圈數差、匝間層間短路，更具體地說，在有導磁材料的情況下，還可判斷其材質的差別等；高壓脈沖下放電量計數還可以對繞組層間或多個繞組間絕緣**進行判定。

圖中的自激振蕩衰減波形直接和線圈的電感值L及品質因素Q值有著密切的關系，而L值及Q值又和線圈的圈數、制造工藝、是否空心線圈并且還與導磁材料特性又有著不可分割的關系。由于施加電壓是高壓脈沖電壓，因此，線圈短路、匝間局部短路或由于絕緣損傷引起的層間或匝間電暈放電現象自然很容易被發現。

B.高能量測試

1.098J高能量搞定破皮線圈檢測

TH2886S*大脈沖能量達1.098J，遠超以往儀器換算后的等效能量水平。對于有破皮問題的電感線圈，其高能量脈沖輸出是解決測試難題、確保測試準確有效的關鍵，能為質量檢測與性能評估提供可靠技術支持。

C.多通道測試

TH2886S采用多通道設計，允許連接和測試多個線圈，*多10個輸出通道，支持多線圈測試，大幅提升生產線檢測效率，縮短交付周期。

D.高采樣率

TH2886S波形采樣率達200Msps，能以高分辨率細致捕捉脈沖波形，精準還原其細微變化，清晰記錄上升沿、下降沿及微小波動噪聲，為測試人員提供真實準確數據，提升電感線圈測試結果準確性與可靠性。

E.九種波形比較方法

a） 面積比較（Area）

如圖所示，在任意指定的A～B區間內對被測線圈測試波形面積進行(積分)計算，并與標準波形在此區間內的面積進行比較，用這兩個波形面積的差異值與標準波形在此區間的面積的百分比作為判定依據，判定基準用百分比來設定。

波形面積近似地與能量損失成正比，故可使用面積比較方法來判斷線圈中的能量損耗情況，有效地檢測線圈層間和匝間短路。

b） 面積差比較（Area）

如圖所示，在任意指定A～B區間內對被測線圈測試波形和標準波形的Y軸方向的差異值進行計算(積分計算的結果為 A～B區間內的陰影部分)和標準波形在此區間的面積比較，基準用百分比來設定。

面積差比較主要體現了電感量L的差異，該比較方法可有效檢測出被測線圈與標準線圈的電感量差異。

C）毛刺總量比較（Flutter）

如圖所示，在**個振蕩周期對被測線圈測試波形和標準波形的Y軸方向的差異值進行計算(積分計算的結果為A～B區間內的陰影部分)和標準波形在此區間的面積比較，基準用百分比來設定。

在**個振蕩周期對一次微分波形面積進行(積分)計算，并與標準波形在此區間內的面積進行比較，用這兩個波形面積的差異值與設定值進行比較。毛刺總量主要體現了待測線圈內部的放電數量，可直觀反映待測線圈的內部絕緣層破損所致短路打火的程度。

d） *大毛刺比較（Laplac）

將較為光滑的標準波形與測試波形分別進行二次微分計算，得到二次微分波形，如下圖所示。

在任意指定的區間內對二次微分波形查找*大值，并與標準波形在此區間內的*大值進行比較，用這兩個*大值的差異值與設定值進行比較。*大毛刺比較法可有效反映因電氣**或電極焊接**引起的放電程度。

e） 波峰比比較

將被測件自體諧振波形的**個峰值與**個峰值計算出波峰比，與設定值進行比較。可直觀反映待測件相對標準品的等效并聯電阻與Q值差異。

f） 波峰差比較

將被測件的波峰比與標準波形的波峰比進行比較，用這兩個波峰比的差異值與標準波形的波峰比的百分比作為判定依據，判定基準用百分比來設定。

g） 角頻率、衰減系數比較（**CN117192443）

自體諧振波形的振蕩波形可近似的表示為V=A∙eλt∙cos(ωt)，ω即角頻率，λ即衰減系數，采用同惠公司自有*優化算法，根據離散的采樣點計算出角頻率和衰減系數，再與標準波形的角頻率和衰減系數進行比較，用差異值與標準波形的角頻率和衰減系數

的百分比作為判定依據，判定基準用百分比來設定。可**反映測試品與標準品之間的微小差異。

h） 品質因數

理論上λ=0時，無阻尼震蕩，波峰間隔固定即為周期（2π/ω）。指數函數的性質導致固定間隔T的比值也固定（即波峰比）。

可**反映測試品與標準品之間品質因素Q的微小差異。

產品參數